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Titre :  VLSI test principles and architectures : design for testability , edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen Editeur :  Amsterdam Boston , Elsevier Morgan Kaufmann Publishers -- cop. 2006 Description :  1 vol (xxx-777 p.) : ill. ; 25 cm Collection :  The Morgan Kaufmann series in systems on silicon ISBN:  0-12-370597-5 , hardcover : alk. paper 978-0-12-370597-6 , hardcover : alk. paper Notes :  pcc Includes bibliographical references and index. NLGGC YDXCP IG# NZ1 Sujet :  Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design Circuits intégrés à très grande échelle -- Essais Circuits intégrés à très grande échelle -- Conception et construction   Exemplaires Site Emplacement Cote Type de prêt Statut   Ensea Archives ARCH-2849 Empruntable Disponible

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