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Auteur :  Medard , Nicolas Valignat , Marie-Pierre Titre :  Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique , Nicolas Medard, Marie-Pierre Valignat Notes :  Référence de l'article : nm7500 Volume : base documentaire : TIP520WEB Publié dans : Techniques de l'ingénieur. Optique Photonique Date de publication : 2011/10/10 Résumé : Ces dernières décennies, de nombreuses techniques d'amplification du signal pour repousser les limites de détection ont vu le jour. La grande majorité d'entre elles mettent en œuvre l'utilisation de supports aux propriétés bien spécifiques. En effet, des supports constitués de couches minces ou de couches micro- ou nanostructurées sont aujourd'hui présents dans des domaines tels que l'analyse biologique sans marquage, la spectroscopie RAMAN ou encore la microscopie SNOM... Des supports amplificateurs de contraste ont également été développés pour la microscopie optique mais leurs performances restaient jusqu'à maintenant très limitées. En effet, la microscopie optique pose des contraintes particulières de par la géométrie du faisceau d'éclairage incident. Une étude portant sur la modélisation du trajet lumineux en lumière polarisée a récemment permis l'élaboration de supports répondant à des conditions d'amplification de contraste. De par leurs caractéristiques, ces supports permettent avec un microscope optique standard, la visualisation de couches et d'objets d'épaisseurs nanométriques (nanofilm, biofilm, biopuce, brin d'ADN, nanoparticule, nanotube de carbone, feuillet de graphène...). Abstract : These last decades, numerous signal enhancement techniques to push away the detection limits were born. Most of them implement the use of supports with specific properties. Indeed, supports made of thin layers, or micro- or nano-structured layers are present in topics such as unlabelling biological analysis, RAMAN spectroscopy, SNOM microscopy... Contrast enhanced supports were also developed for the optical microscopy but their performances remained so far very limited. Indeed, the optical microscopy has particular constraints due to the geometry of the incidental lightbeam. Recently, a study concerning the modelling of the polarized light beam allowed the elaboration of supports having contrast-enhancement properties. Due to their characteristics, these supports enable to visualize with a standard optical microscope, layers and objects having nanometric thicknesses (nanofilm, biofilm, biochip, ADN strength, nanoparticle, carbon nanotube, graphene sheet...). Mots-clés : SEEC, Microscopie optique, nanotechnologie, surface amplificatrice de contraste, nano-films, nano-objets. Keywords : SEEC, optical microscopy, nanotechnology, contrast-enhanced surface, nano-films, nano-objects. URL:  https://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th13/nano-optique-42455210/microscopie-seec-la-microscopie-optique-comme-outil-de-caracterisation-nanometrique-nm7500/ https://doi.org/10.51257/a-v1-nm7500   Exemplaires Pas de données exemplaires

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