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par auteur:
Piednoir , Agnès
Albertini , David
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Auteur :
Piednoir , Agnès
Albertini , David
Titre :
Microscopie à sonde locale , Agnès Piednoir, David Albertini
Notes :
Référence de l'article : p895
Volume : Base documentaire : TIP630WEB
Date de publication : 10/06/2023
Publié dans : Techniques de l'ingénieur. Techniques d'analyse
Cet article traite de la microscopie en champ proche ou à sonde locale. Ce type de microscopie est basé sur la détection d'une propriété physique en surface (tel un courant électrique, une force, des photons) à l'échelle locale. Son principe est très différent de celui des microscopes classiques, une pointe vient sonder les informations à l'extrême surface de l'échantillon. La technique a considérablement évolué depuis l'avènement des nanotechnologies et elle apporte maintenant de nombreuses réponses sur les propriétés des matériaux à l'échelle de la molécule ou de l'atome.
URL:
https://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techniques-d-analyse-par-imagerie-42387210/microscopie-a-sonde-locale-p895/
https://doi.org/10.51257/a-v3-p895
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