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Titre :  Atom probe field ion microscopy , M.K. Miller, A. Cerezo, M. G. Hetherington,...[et al.] Editeur :  Oxford , Clarendon Press New York , Oxford University Press -- 1996 Description :  XI-509 p., [4] p. of plates : ill. ; 24 cm Collection :  Monographs on the physics and chemistry of materials ; 52 Oxford science publications ISBN:  0-19-851387-9 Notes :  Bibliogr. Index. Sujet :  Atom-probe field ion microscopy Microscopie ionique à émission du champ   Exemplaires Site Emplacement Cote Type de prêt Statut   Site de Saint-Martin Espace Recherche 502.82 ATO Prêt Disponible Réserver

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