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Auteur :  Zevin , Lev S. Titre :  Quantitative X-ray diffractometry , Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik Editeur :  New York , Springer -- c1995 Description :  1 vol. (xvii, 372 p.) : ill. ; 25 cm ISBN:  0-387-94541-5 , hc : alk. paper Notes :  Includes bibliographical references (p. 355-364) and index. Sujet :  X-rays -- Diffraction. X-rays -- Diffraction -- Industrial applications Rayons X -- Diffraction Rayons X -- Diffraction -- Applications industrielles   Exemplaires Site Emplacement Cote Type de prêt Statut   Site de Neuville Réserve n°1 548.83 ZEV Prêt Disponible Réserver

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