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Auteur :  Kelly , Joe Titre :  Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices , Joe Kelly, Michael Engelhardt Editeur :  Boston , Artech House -- 2007 Description :  1 vol. (xx, 301 p.) : ill. ; 24 cm Collection :  Artech House microwave library ISBN:  1-580-53709-X 978-1-580-53709-4 Notes :  Références bibliographiques.Index YDXCP AU@ Sujet :  Systems on a chip -- Testing Systèmes sur puce -- Tests   Exemplaires Site Emplacement Cote Type de prêt Statut   Ensea Archives ARCH-5611 Empruntable Disponible

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