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Microscopie à force atomique
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Atomic force microscopy
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Bowen , William R. , 1951-...
Hilal , Nidal
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Auteur :
Bowen , William R. , 1951-...
Hilal , Nidal
Titre :
Atomic force microscopy in process engineering : an introduction to AFM for improved processes and products , W. Richard Bowen and Nidal Hilal
Editeur :
Amsterdam Boston Paris [etc.] , Elsevier -- 2009
Description :
1 vol. (XVI-283 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm.
ISBN:
978-1-85617-517-3 , rel.
1-85617-517-0
Notes :
Notes bibliogr. Index
Sujet :
Microscopie à force atomique
Technique de la production
Nanotechnologie
Atomic force microscopy
Production engineering
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Emplacement
Cote
Type de prêt
Statut
Ensea
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ARCH-8614
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